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行業應用

電極片涂布面密度(厚度)測控系統

電極片涂布面密度(厚度)在線測控系統

系統簡介

電極片的涂布面密度檢測主要可通過低能X射線,Kr85放射性同位素β射線或者近紅外光譜這三類技術來實現。X射線無輻射污染,環保豁免,壽命長;β射線的廣譜吸收特性,負極極片的涂布量檢測用它來完成非常適合;近紅外光譜適用于多組分材料。

 

產品特點

SYSMART-BII系統掃描架的導軌、軸承、傳動機構均采用進口部件,架體采用高強度合金鋼自動焊接工藝,經振動消應處理;

系統采用德國產懸臂柜結構,操作靈活,位置緊湊,外觀大方;

電控部件采用進口精密調速部件,探頭數據處理采用雙元針對性開發的智能掃描數據高速綜合處理系統;

面密度檢測探頭核心部件均進口自歐美市場,同時采用前置放大探頭內腔精密恒溫技術,恒溫精度±0.1℃。在此基礎上通過空載標定、砝碼式內部標定技術,使得探頭的檢測精度和穩定性達到了計量儀器的標準!

系統具有導軌自動補償功能,可以徹底消除導軌的長期累積誤差和機架可能存在的變形,使系統保持長期的檢測精準性;

清潔型結構設計,不會對被測片材造成任何污染;

組合式雙導輥結構可以實現極片的任意方向出入,同時最大限度減少對極片的彎曲損傷;

系統采用了縱橫向分離算法,使得橫幅面密度檢測的真實性基本不受縱向面密度變化的影響。配合系統的快速掃描功能,使系統實現了對電極片面密度的全面有效檢測;

系統具備電極片的縱橫向面密度自動控制功能,通過自動調節涂布機構的涂布機械間隙實現面密度的自動調節!